Ionenmigrations-Testsystem AMI-Serie

Effiziente Scanner-Technology kombiniert mit automatisiertem Messsystem für präzise Ergebnisse: Das ESPEC AMI-System.

Nähere Produktbeschreibung

Das ESPEC AMI-System misst die Veränderung des Isolationswiderstandes an Prüflingen anhand von Dendritenwachstum und Ionenmigration. Die Messung erfolgt auf der Oberfläche (SIR) oder in der Zwischenlage (CAF).
Dem AMI-System lassen sich Prüfprofile mit individuellen Stress- und Messspannungen von derzeit 100V bis 1.000V vorgeben. Die Dokumentation und Auswertung erfolgt über eine dedizierte Software, die auf einem hochwertigen PC-System installiert und mit einem Multiplexer kombiniert ist.

Mit der Grundausstattung lassen sich 25 Kanäle überwachen, je nach Bedarf ist eine Erweiterung auf bis zu 150 Kanäle möglich. Das System misst kontinuierlich mit einer sehr hohen Präzision in einem Messbereich zwischen 2x 103 und 1013 Ohm . Als zusätzliche Messeinheit dient die Leckstrommessung, mit der Anwender ein Dendritenwachstum schon frühzeitig erfassen und nach eigenen Vorgaben darauf reagieren können.

Das AMI-System lässt sich mit einem oder mehreren Klimaprüfschränken kombinieren und über die Systemsoftware synchron mit dem Testprofil steuern.